Universal Testsystem TBT 8812 im 14 HE 19" Schrank.
Universal Testsystem TBT 8812 im 14 HE 19" Schrank.
Das computergesteuerte universelle Bauelemente Testsystem TBT 8812,
ist voll modular aufgebaut. Es kann daher in den verschiedensten Ausführungen und
Gehäusen geliefert werden.
Um die gestiegenen Anforderungen an die Qualitätskontrolle in der ElektronikIndustrie zu erfüllen, sowie in der Zukunft die Erweiterungsmöglichkeit und die Modularität zu sichern, hat die Firma ALPHATEST Automatisierungs- und Systemtechnik GmbH nun die 2. Generation ihres Universal-Bauelementetestsystems entwickelt. Dies wurde möglich, durch die jahrelangen Erfahrungen bei den verschiedensten Applikationen mit mehr als 60 Systemen der ersten Generation, in 7 Ländern. Hiervon stammen auch die äußerst wertvollen Anregungen der Anwender, die die Entwicklung des TBT 8812 sehr stark beeinflußten.
Besonderen Wert legten die Entwickler auf die Flexibilität (Baukasten-Prinzip) und die einfache Bedienung, welche das System TBT 8812 auch für die Wareneingangskontrolle qualifizieren.
Die einfache Adaption des TBT 8812 an Handlingssysteme, hohe Testgeschwindigkeit, günstiger Anschaffungspreis und niedrige Folgekosten, machen den TBT 8812 gerade für Bauelemente-Hersteller zur richtigen Entscheidung.
Durch die einfache Bedienung über Software in Window-Technik, sowie die Multiuser und Multiterminalfähigkeit (Multitasking), ist die Auslastung des TBT 8812 und daher die Rentabilität gegenüber Mitbewerbern deutlich höher.
Für die einzelnen FamilyTestterminals, sind für alle handelsüblichen Bauteil-Gehäuseformen, entsprechende Testadapter erhältlich.
Die Multiuserfähigkeit des Systems bedeutet, daß bis zu 4 Family-Testterminals im Multiplexverfahren, sequentiell abgearbeitet werden können. Somit teilen sich 4 Testterminals die Quellen und die Meßeinheit des TBT 8812, was die Auslastung entscheidend verbessert.
Die durchschnittliche Testzeit für einen bipolaren Transistor liegt zwischen 40-200 Milli-Sekunden.
Die Handlingszeit dieses Bauelementes, mit Handlingssystemen beträgt ca. 90-250 Milli-Sekunden. Manuelles Handling benötigt ca. 110 Sekunden.
Diese Gegenüberstellung zeigt deutlich, daß sowohl bei automatischem, als auch bei manuellem Handling, die Auslastung des Systems wesentlich höher ist, wenn während der Handlingszeit eines Bauteiles, ein anderes zwischenzeitlich getestet werden kann.
Gerade bei der Rentabilitätsrechnung ist dies ein wichtiger Faktor.
Der Durchsatz des TBT 8812 ist durch die Mehrplatzfähigkeit um Vieles höher als bei Systemen des Wettbewerbes, welche nur mit einem Testterminal arbeiten könen.
Zusätzlich zu diesen Möglichkeiten, kann parallel zu den 4 analogen Testterminals, noch 1 DigitalTestterminal am TBT 8812 angeschlossen werden.
Getestet werden können momentan diskrete, lineare, analoge, digitale und MixedSignal Bauelemente (Smart-Power, IGBT). Hierbei sind auch spezielle Tests, wie dVBE/dVF, Surgector und kundenspezifische Testprozeduren jederzeit durchführbar und zu erstellen. Natürlich gibt es auch Optionen, zur Messung der Schaltzeiten, Sperrschichtkapazität und von Qrr und Trr.
Folgende Bauteile werden mit Prüfprozeduren durch die StandartSoftware des UniversalTestsystems TBT 8812 unterstützt und können sofort geprüft werden. Bauteilefamilien oder Testparameter, die noch nicht durch die StandardSoftware des TBT 8812 unterstüzt werden, können jederzeit von der Firma ALPHATEST Testautomation, oder nach spezieller Schulung auch vom Anwender neu in die Software aufgenommen werden.
| Bauteil: | Erklärung: | Benötigte Option: |
|---|---|---|
| ARRAYS | Alle verschiedenen Arrays der testbaren Bauteile | TBTSTT+MUX+Adapter |
| DARDB | Darlington Double Base | TBTSTT+Adapter |
| DIAC | Diacs | TBTSTT+Adapter |
| DIODE | Diode | TBTSTT+Adapter |
| DGFET | Double Gate FET | TBTSTT+Adapter |
| IGBT | IGBTs in allen Ausführungen | TBTSTT+Adapter |
| LED | Leuchtdioden, auch mit LichtstärkeTest | TBTSTT + TBTLED+Adapter |
| NJARRAY | NJFET Arrays | TBTMUX+Adapter |
| NJFET | NKanal JFET | TBTSTT+Adapter |
| NMOS | NKanal MOSFET | TBTSTT+Adapter |
| NPN | Bipolare NPN Transistoren und Darlingtons | TBTSTT+Adapter |
| OC16 | Optokoppler im 16 PIN Gehäuse | TBTMUX+Adapter |
| OCTSC | Optocoupler mit Triac/SCR Ausgang | TBTSTT + TBTOC+Adapter |
| OPTOC | Optocoupler Bipolar Ausgang | TBTSTT + TBTOC+Adapter |
| PNP | Bipolare PNP Transistoren und Darlingtons | TBTSTT+Adapter |
| PJFET | PKanal JFET | TBTSTT+Adapter |
| PMOS | PKanal MOSFET | TBTSTT+Adapter |
| PTXR | Phototransistoren | TBTSTT + TBTPHOT+Adapter |
| PUT | Programmable Unijunction Transistor | TBTSTT + TBTPUT+Adapter |
| REFREG | Referenz Spannungsregler | TBTSTT+Adapter |
| REG16 | MultiPin (16 max) Voltage Regulator | TBTMUX+Adapter |
| REG+ | Positive Spannungsregler | TBTSTT+Adapter |
| REG | Negative Spannungsregler | TBTSTT+Adapter |
| RLY16 | Relaise im DIL Gehäuse | TBTMUX+Adapter |
| Relay | Relaise, verschiedene Gehäuse | TBTMUX + TBTREL+Adapter |
| RPAC | Widerstandsarrays | TBTMUX+Adapter |
| SCR | Thyristoren | TBTSTT+Adapter |
| SREG | Serielle Spannungsregler | TBTSTT + TBTSREG+Adapter |
| SSRLY | Halbleiter Relaise | TBTMUX+Adapter |
| THERM | Thermistoren | TBTSTT + TBTTHER+Adapter |
| TRIAC | Triacs | TBTSTT+Adapter |
| UJT | Unijunction Transistoren | TBTSTT + TBTUJT+Adapter |
| VARAC | Varactor Diode | TBTSTT + TBTVAR+Adapter |
| ZENER | Zener Diode | TBTSTT+Adapter |
| TTL | Digitale TTL IC.s | TBTDIG(?) |
| CMOS | Digitale CMOS IC.s | TBTDIG(?) |
| Timer | Timer Bausteine, verschiedene Gehäuseformen | TBTLIN+Adapter |
| Comp | Komparatoren in verschiedenen Gehäusen | TBTLIN+Adapter |
| OPAMP | OperationsVerstärker | TBTLIN+Adapter |
| Hybrids | HybridSchaltungen | TBTLIN/TBTSTT/TBTSCAN/MUX |
Für das UniversalTestsystem TBT 8812 erhältliche Optionen:
Weitere Optionen und Neuheiten, auf Anfrage. Ebenso nähere technische Details.
Um gleichartige Bauelemente in verschiedenen Gehäusetypen testen zu können, benötigt man einen entsprechenden Adapter. Diese Adapter werden auf das Testterminal aufgesteckt und verbinden die Anschlüsse des Testterminals mit den Anschlüssen des Bauelementes. An der Oberseite des Adapters befindet sich dann der Testsockel, in den das Bauelement eingesteckt wird. Adapter mit entsprechenden Testsockeln sind, für praktisch alle handelsüblichen Gehäusetypen erhältlich.
Um spezielle Testaufgaben auszuführen, benutzt man die an den Adapteranschluß geführten Steuerleitungen, welche im Adapter befindliche Zusatzschaltungen steuern können.
Für halbautomatische Adaptionen, sind an die Adapteranschlüsse, auch die Signale SOT (START OF TEST) und EOT (END OF TEST) geführt.
Durch Sicherheitskontakte, welche ebenfalls im Adapter vorhanden sind, wird die Ausführung des Testes verriegelt, bis die entsprechenden Sicherheitsabdeckungen geschlossen sind. Diese Sicherheitsvorkehrungen sind exakt an Kundenbedürfnisse anpaßbar.
TransistorAdapter, für bipolare Transistoren, Gehäusetyp TO220/TO218
Ein FamilyTestterminal dient als Schnittstelle zwischen Tester und BauelementeAdapter.
Diese FamilyTerminals sind jeweils auf eine BauteileFamilie zugeschnitten und erweitern
teilweise auch das Grundsystem des Testers, um die notwendigen Tests durchzuführen.
Das AnalogTesterminal TBTSTT, ist für die BauteileFamilie der diskreten Halbleiter gedacht. Es beinhaltet eine Schaltmatrix, um die Quellen und die Meßeinheit an den jeweiligen Adapterpunkt zu bringen, sowie entsprechende Kontrollogik. Ebenso ist in dem Testterminal die GUT/SCHLECHTAnzeige und die Sortierklassenanzeige untergebracht.
Dieses AnalogTestterminal ist mit den verschiedensten Verriegelungsschaltungen und Schutzabdeckungen ausrüstbar, je nach Bedarf . Die maximale Spannung, für die dieses Testterminal verwendet werden kann, ist 3000V. Der maximale Strom beträgt 200A.
Mittels einer Option (Option STTHC), ist das Testterminal bis 600A benutzbar.
Ein FamilyTestterminal dient als Schnittstelle zwischen Tester und BauelementeAdapter. Diese FamilyTestterminals sind jeweils auf eine BauteileFamilie zugeschnitten und erweitern teilweise auch das Grundsystem des Testers, um die notwendigen Tests durchzuführen.
Das HochspannungsTestterminel TBTHV, ist rein für die BauteileFamilie der diskreten Halbleiter gedacht. Es beinhaltet eine Schaltmatrix, um die Quellen und die Meßeinheit an den jeweiligen Adapterpunkt zu bringen, sowie entsprechende Kontrollogik. Ebenso ist in dem Testterminal die GUT/SCHLECHTAnzeige und die Sortierklassenanzeige untergebracht.
Dieses HochspannungsTestterminal ist mit den verschiedensten Verriegelungsschaltungen und Schutzabdeckungen ausrüstbar, je nach Bedarf.
Die Maximale Spannung, für die dieses Testterminal verwendet werden kann, ist 6000V. Der maximale Strom beträgt 200A.
Mittels einer Option (Option HVHC), ist das Testterminal bis 600A benutzbar.
Die Zeitmeßoption TBTTIME1, besteht im wesentlichen aus einem DigitalSpeicheros-zilloskop, welches über IEEE488Bus, in das System integriert wurde. Dies erlaubt die Benutzung aller Funktionen des Oszilloskopes. Somit auch die Möglichkeit, den zeitlichen Verlauf der Schaltkurven, der Bauelemente, zu überprüfen. Die Abtastrate dieses Oszilloskopes, für transiente Vorgänge, kann bei der normalen Version bei 100 MegaSamples pro Sekunde liegen und bei der größten Version bei 800 Mega-Samples pro Sekunde.
Die, bei Verwendung dieser Option, im System serienmäßig vorhandenen Messungen sind:
* Risetime
* Falltime
* Switchingtime
* Recoverytime
* Bouncetime
* OnTime
Die Auflösung der Zeitmessung hängt hierbei von der Anzahl der Messungen/Sekunde ab, die das verwendete Gerät erreicht.
Bei 100 MS/s, beträgt die Auflösung 10 Nanosekunden.
Bei 200 MS/s, beträgt die Auflösung 5 Nanosekunden.
Bei 400 MS/s, beträgt die Auflösung 2,5 Nanosekunden.
Bei 800 MS/s, erreichen wir schon eine Auflösung von 1,25 Nanosekunden.
Somit ist es möglich, die technischen Daten dieser Option, an die Erfordernisse der
für Sie wichtigen Messung anzupassen.
Auch ist die Programmierung der Tests, sowie die Ausgabe der entsprechenden Meßwerte,
voll in die Systemsoftware des TBT 8812 integriert. Dies erlaubt die Behandlung dieses,
sowie anderer IEEE488 gesteuerter Geräte, exakt so wie die, der von uns entwickelten
Instrumentierung.
Anwendung: Der Adapter wird für das Testen von FET, sowie MOSTransistoren und anderen Bauteilen mit kleinsten LeckStrömen benutzt.
| Meßbereich: | Auflösung: | Genauigkeit: |
|---|---|---|
| 20.00 nA | 10 pA | +/0,5%FS +/1,5%MW |
Der Testkopf TBTNA kann nur für Ströme bis maximal 2A benutzt werden. Die Software des TBT 8812 läßt keine höheren Eingaben zu. Ebenso sind Spannungen über 1000V nicht zulässig. Auch dies wird bereits bei der Testprogrammerstellung, von der Software blockiert. Benötigt spezielle Adapter um die Genauigkeit zu erreichen.
Anwendung: Der Adapter wird für das Testen von FET, sowie MOSTransistoren und anderen Bauteilen mit kleinsten Leckströmen benutzt.
| Meßbereich: | Auflösung: | Genauigkeit: |
|---|---|---|
| 20.00 nA | 10 PA | +/0,5% FS, +/2,5 MW |
| 2.000 nA | 1 pA | +/1,5% FS, +/5% MW |
| 200.0 pA | 100 femtoA | +/10% FS, +/15% MW |
Der Testkopf TBTPA kann nur für Ströme bis maximal 2A benutzt werden. Die Software des TBT 8812 läßt keine höheren Eingaben zu. Ebenso sind Spannungen über 200V nicht zulässig. Auch dies wird bereits bei der Testprogrammerstellung, von der Software blockiert. Benötigt spezielle Adapter, um die Genauigkeit zu erreichen.
W ie allgemein bekannt, geht die Firma ALPHATEST Automatisierungs- und Systemtechnik, mit der Zeit und schreibt das Wort SOFTWAREPFLEGE groß. Um den Anwendern, des TBT 8812 noch mehr Komfort bieten zu können, gibt es jetzt, als OPTION (UPGRADE), das SoftwarePaket, TBTKENNL. Dieses Paket enthält die zusätzlichen, für die Erstellung von Kennlinien notwendigen Testparameter und die entsprechende AuswerteSoftware.
D amit ist es jetzt möglich, von den verschiedensten Parametern an Bauelementen, die entsprechende Kennlinie abzufahren und als Grafik, auf dem Bildschirm, oder über Drucker darzustellen.
D ies gibt Ihnen die Möglichkeit, mittels des TBT 8812, Grundsatzuntersuchungen an Bauelementen, sowie Freigabeuntersuchungen einfach durchzuführen.
A nbei ein Beispiel, für eine Untersuchung der Flußspannung an Dioden, von verschiedenen Herstellern. Sie sehen an diesem Beispiel, daß zwar alle diese Dioden innerhalb der Spezifikation ( VF < 1,1V, bei IF=1A ) sind. Die Steilheit der Kennlinien, ist jedoch enorm unterschiedlich.
W ie allgemein bekannt, geht die Firma ALPHATEST Automatisierungs- und Systemtechnik GmbH mit der Zeit und schreibt das Wort SOFTWAREPFLEGE groß.
U m den Anwendern, des TBT 8812 noch mehr Komfort bieten zu können, gibt es jetzt, als UPGRADE, die Option TBTSTAT. Diese Option, ist ein Zusatz-Softwarepaket für unsere bekannte, einfachst zu bedienende Steuersoftware, welche eine Produktionsstatistik erlaubt. Erhältlich sind mit der Option TBTSTAT, tägliche, wöchentliche und monatliche Auswertungen (auch für 3SchichtBetrieb).
D ies bietet direkte Information über die getesteten Parameter, die Ausfälle, die Mittelwerte, Häufigkeitsverteilung, die Varianz, das Sigma und direkte Auswertung der Prozentanteile, wie GUT/SCHLECHT, gesamt und jedem getestete Parameter. Jede dieser Auswertungen wird für jede BauelementeCharge erstellt und in entsprechenden Files hintereinander gespeichert.
Ein extra Menüpunkt in der StandardSoftware, für den Ausdruck und die Sicherung der
Files auf Diskette, vervollständigen dieses Paket. Ein einfaches Installationsprogramm
installiert diese Option auch in bestehende Systeme.
e-mail address: sales@dimmtester.de
Homepage: http://www.alpha-test.com
fax: [49] 8151/55228
tel.: [49] 8151/55227
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